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【小王子上新】SANKO山高電磁式膜厚儀 SL-200E

更新時(shí)間:2025-02-13      瀏覽次數(shù):109

【小王子上新】我司近期推出產(chǎn)品SANKO山高電磁式膜厚儀 SL-200E


日本SANKO山高電磁式膜厚儀 SL-200E

測(cè)量范圍 0~500 μm

特征

模擬膜厚儀

非常適合測(cè)量小零件,高性能小型2極型:可以測(cè)量小地方和內(nèi)部(定制)

該探頭體積小,適用于測(cè)量局部涂層的厚度,如平面和彎曲到圓棒、零件、復(fù)雜形狀和內(nèi)部。

規(guī)格

測(cè)量范圍:0 至 500 μm

探頭:磁極/2極型,磁極直徑/φ2.5,尺寸/10(W)×17(H)×21(D)mm

尺寸:190 (W) x 90 (H) x 120 (D) 毫米

重量:1.8公斤

附件:標(biāo)準(zhǔn)板、AC適配器、肩包


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